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磁粉探伤标准试片的应用

一、本内容规定了铁磁材料及其制品磁粉探伤的一般方法和交叉磁轭探伤方法、缺陷磁痕的分类等内容。

二本内容适用于检验铁磁材料及其制品(以下称试件)表面或近表面的裂纹和其他缺陷。

三、本内容对磁粉探伤所用的各种设备器材及其技术要求、探伤时机安排，不同的探伤实施方法及各自的特长与适用范围、检验程序与要领、显示的磁痕判别与分类等进行了扼要的描述和规定，它可作为任何部件磁粉探伤规程编制的依据。

四、一个有效的磁粉探伤方法，最基本的要求应该是这样的。其所用磁化方法建立于被检件上的磁场，应尽可能与缺陷预计方向垂直，且应有足够的场强；当用选定的标准试片(块)校验时，试片上要求检出的人工缺陷处形成的漏磁场应能充分吸附施加的磁粉，形成清晰可见的磁痕。

1标准试片及对比试片

1.1A型标准试片

1.1.1A型标准试片用来检查探伤装置、磁粉、磁悬液的综合性能以及连续法中试件表面的有效磁场强度和方向、有效探伤范围、探伤操作是否正确等。这种试片必须经有关计量部门鉴定。

1.1.2A型标准试片分高、中，低三种灵敏度。其型号中的分数值越小，则要求能显示磁痕的有效磁场强度越高。此灵敏度不代表实际能检测缺陷的大小。

1.1.3A型标准试片中有圆形和十字形人工槽，A型标准试片型号，相对槽深与材质：

型     号：Al型标准试片分为A—15／100，A—30／100，A—60／100

     试片相对槽深其分子为人工槽深度，分母为试片厚度。

灵敏度材料：高超高纯低碳纯铁（C＜0.03%，HC＜80A/m经退火处理）

1.I.4应根据对探伤灵敏度的要求，选用相应的A型标准试片。当需要更强的有效磁场时，可用标准试片型号的倍数来表示，例如

A—30／100×2表示进行探伤的磁化电流应为A—30／100型试片上获得磁痕的磁化电流的2倍。

1.1.5使用A型标准试片时，应将没有人工槽的一面置于外侧，并用粘胶纸将试片紧贴在探伤面上。注意粘胶纸不可贴没人工槽相对应的部位。

1.1.6对A型标准试片施加磁粉时，应采用连续法。

1.1.7A型标准试片的形状、尺寸发生变化后，不得继续使用。

1.2C型标准试片

1.2.1C型标准试片适用于焊接坡口等狭窄的部位，即因尺寸关系，使用A型标准试片有困难时，它可用来代替A型标准试片。这种

试片必须经有关计量部门鉴定。

1.2.2C型标准试片材质与A型标准试片相同。几何尺寸如图2所示。其厚度为50m，人工槽深度为8±1m。

1.2.3C型标准试片使用时沿分割线切成5mmXlOmm的小片。用适当的双面粘胶纸或粘结剂将有人工槽的一面紧贴在探伤面上。

1.2.4对C型标准试片施加磁粉时，应采用连续法。5.2.5C型标准试片的形状、尺寸、磁特性发生变化时，不得继续使用。

1.3B型对比试片

1.3.1B型对比试片用来检查探伤装置、磁粉和磁悬液的综合性能。

1.3.2B型对比试片采用电磁软件，或与试件相同材质的材料制成。其几何尺寸如图3所示。

1.3.3使用B型对比试片采用穿棒法连续磁化。

2探伤工序

2.1原则上应在结束一切加工及处理工序后一定时间进行探伤。若表面处理工艺会给缺陷检测带来困难时，则可在表面处理前

进行探伤。

2.2对于滚动轴承等装配件，如在探伤后无法完全去除磁粉而影响产品质量时，则应在零件装配前进行探伤。

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